金融界2025年1月27日消息，国家知识产权局信息数据显示，先进光半导体（深圳）有限公司申请一项名为“光耦继电器性能检验测试方法、装置、存储介质及电子设备”的专利，公开号CN 119355507 A，申请日期为2024年11月。
专利摘要显示，本公开涉及一种光耦继电器性能检测的新方法、装置、存储介质及电子设备，包括：确定待测光耦继电器两端对应开启电压的第一参数，生成待测光耦继电器对应开启电压变化情况的过程变化参数，获取偏置检测试验结束后，待测光耦继电器在经过偏置检测试验后的第二参数，确定待测光耦继电器对应初始参数与结果参数之间的参数差值；获取待测光耦继电器的失效变化常数，根据参数差值、失效变化常数和过程变化参数，确定待测光耦继电器的失效变化速率，根据第一参数和失效变化速率，生成待测光耦继电器的性能检验测试结果。从而基于退化失效时长来判定光耦继电器的性能，为对光耦继电器做准确评估提供了技术支撑，获得光耦继电器的性能评估结果。
天眼查资料显示，先进光半导体（深圳）有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，先进光半导体（深圳）有限公司参与招投标项目2次，知识产权方面有商标信息9条，专利信息10条，此外企业还拥有行政许可1个。
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